01
Ujian-E
2024-06-26
Ujian-E
Tujuan:
Proses:
Memuatkan→Menguji→Kenal pasti masalah dengan PCB yang tidak normal→Menguji semula
Terdapat 2 kaedah biasa untuk E-Test:
Ujian jig
Terutamanya menguji papan litar dalam kuantiti yang banyak dengan kelajuan yang pantas, tetapi setiap jig hanya boleh menguji satu jenis PCB;
Ujian probe terbang
Terutamanya menguji sampel dan kuantiti papan litar yang kecil dengan kelajuan perlahan, tetapi menurut maklumat yang diberikan, pelbagai PCB boleh diuji.
Automatik sepenuhnya
DAN mesin
0102